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  苏州原位芯片科技有限公司的氮化硅微孔窗口使用先进微电子工艺打造,可用于纳米线高分辨观测等实验和检测,相对于微栅碳膜其表面更加洁净稳定。0.5mm的方形氮化硅窗口依然位于硅片的中心,上面规则排布着2.8μm直径的圆孔。

图为本款窗口被用来观测氧化锌纳米线的结果图

标准TEM氮化硅微孔窗口

产品规格(接受其它规格定制)
多孔氮化硅微栅,整体200μm厚,直径3mm标准TEM尺寸
产品编号 氮化硅膜厚度,单位nm 窗口尺寸,单位mm2 孔直径,单位μm
ME050B 30 0.5×0.5 2.8
每盒装有10枚芯片

  原位科技公司生产适用于TEM的氮化硅薄膜窗口样品载体系列产品。该产品为一个3mm直径、200μm厚的硅基芯片,在其上有一个0.25mm×0.25mm或0.5mm×0.5mm氮化硅薄膜窗口。我们制备的氮化硅薄膜窗口厚度一般在15nm到50nm,我们也可以提供其他规格的定制产品。

  原位科技公司生产的专用氮化硅薄膜窗口系列产品具有良好的洁净度和稳定性。良好的洁净度使您获得优秀的图像结果,而稳定性意味着产品不容易破裂。本产品可耐受至少900℃高温,并具备惰性衬底。
> 产品应用实例,请参见产品功能栏目。

产品主要品种

  1. 氮化硅TEM窗口
  2. 氮化硅多窗格TEM载网
  3. 长方形氮化硅TEM窗口
  4. 标准TEM氮化硅微孔窗口
  5. 硅孔框架(无支撑薄膜)
  6. 氮化硅覆盖的3mm圆盘

> 具体规格,请参见产品规格栏目。