原位电化学TEM样品杆

  芯片式TEM原位电化学系统是由苏州原位芯片科技有限责任公司原位系统事业部团队倾力打造而成。该系统采用的是世界领先的芯片接触式原位电化学解决方案。该解决方案使用的是世界独有的芯片自对准技术,免去传统电化学芯片的引线键合步骤。国内…

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原位液体芯片测试服务

  苏州原位科技在国内首次推出高分辨率液体原位TEM芯片(TEM liquid cell)与相配套的测试服务。TL-400是我司自主研发的液体芯片,采用30nm电子透明的超薄氮化硅薄膜将液体与TEM真空环境隔绝,以实现原位液体的动态实时电镜观测。凭借…

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原位电学TEM样品杆

  芯片式TEM原位电学系统是由苏州原位芯片科技有限责任公司原位系统事业部团队倾力打造而成。该系统采用的是世界领先的芯片接触式原位电学解决方案,并且是国内唯一一套实现商业化的TEM原位测试系统解决方案。苏州原位利用后发优势,在制造…

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芯片式TEM电化学解决方案

  芯片式TEM原位电化学系统是由苏州原位芯片科技有限责任公司原位系统事业部团队倾力打造而成。该系统采用的是世界领先的芯片接触式原位电化学解决方案。该解决方案使用的是世界独有的芯片自对准技术,免去传统电化学芯片的引线键合步骤。国内…

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扫描探针式TEM力电学系统

  透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位力学-电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元和纳牛顿力传感器,通过探针对单个纳米结构进行操控和拉应力、压应…

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扫描探针式TEM电学系统

  透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操控和电学测量。并可在电学测量的同时,…

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TEM原位光电系统

  透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,可在三维空间内对电学探针与光纤探针进行亚纳米级精度的操纵与定位。…

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同步辐射氮化硅薄膜窗口

  苏州原位芯片科技有限公司的技术团队一直致力于研发和生长超清洁的同步辐射和电子显微镜用高质量氮化硅膜产品,包括常规的同步辐射氮化硅膜、TEM氮化硅膜、电化学和电学液体原位芯片产品。 同步辐射氮化硅薄膜窗口 产品规格(接受其他规格…

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TEM氮化硅薄膜窗口

苏州原位芯片科技有限公司生产的氮化硅薄膜窗口是利用先进的MEMS技术制备的高质量产品,氮化硅薄膜清洁坚固。我们的氮化硅薄膜窗口适合用于透射成像和透射能谱等广泛的多个科学研究领域。

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TEM氮化硅微孔窗口

苏州原位芯片科技有限公司的氮化硅微孔窗口使用先进微电子工艺打造,可用于纳米线高分辨观测等实验和检测,相对于微栅碳膜其表面更加洁净稳定。0.5mm的方形氮化硅窗口依然位于硅片的中心,上面规则排布着2.8μm直径的圆孔。

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